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簡(jiǎn)要描述:毛細(xì)管 x射線鍍層測(cè)厚儀毛細(xì)管 X 射線測(cè)試鍍層儀器是一款高精度分析設(shè)備。它借助毛細(xì)管聚焦 X 射線,能精準(zhǔn)聚焦于鍍層微小區(qū)域。該儀器具備高分辨率,可清晰分辨鍍層不同層次結(jié)構(gòu),準(zhǔn)確測(cè)定鍍層厚度、成分及元素分布等關(guān)鍵參數(shù)。其操作便捷,對(duì)樣品損傷小,能快速獲取可靠數(shù)據(jù),廣泛應(yīng)用于電鍍、材料科學(xué)等領(lǐng)域,助力鍍層質(zhì)量把控與工藝優(yōu)化 。
產(chǎn)品分類
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毛細(xì)管 x射線鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. 鍍層檢測(cè),最多鍍層檢測(cè)可達(dá) 5 層;鍍層測(cè)量精度 0.001μm;
2. 開槽式設(shè)計(jì),超大可移動(dòng)全自動(dòng)樣品平臺(tái) 480*480mm (長(zhǎng)*寬)(可定制),樣品
移動(dòng)距離 350*250mm ;最大樣品高度:140mm
3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能;
4. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低;
5. 操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測(cè)結(jié) 果(3-30 秒);
6. 可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
7. 軟件升級(jí);
8. 無(wú)損檢測(cè),一次性購(gòu)買標(biāo)樣可使用;
9. 使用安心無(wú)憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間 24H 以內(nèi),提供保姆式服務(wù);
10. 可以遠(yuǎn)程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
11. 采用超導(dǎo)多毛細(xì)管方案,最小光斑可以達(dá)到 15μm ,光強(qiáng)提高 100 倍以上
(二)產(chǎn)品特征
1. 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2. 計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)
2048 通道逐次近似計(jì)算法 ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)
Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)(FP)軟件,通過(guò)簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣標(biāo)定,使用基 礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法,對(duì)樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析
3. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度
4. 勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1 吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2 線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測(cè)量
相對(duì)(比)模式 無(wú)焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量
單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS 等]
雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等] 三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass 等]
四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等] 合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Pb/Cu]
5. Multi-Ray. WINDOWS10 軟件操作系統(tǒng)
6. 完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢(shì)線,Cp 和 Cpk 因素等
7. 自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量。最大測(cè)量點(diǎn)數(shù) 量 = 每 9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有最多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特 殊工具如"線掃描"和"格柵" 。每個(gè)階段文件包含統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦
功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。
四、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明
X 射線光管:50KV ,1mA 鉬鈀
檢測(cè)系統(tǒng):FAST SDD 探測(cè)器
檢測(cè)元素范圍:Al (13) ~ U(92)
應(yīng)用程序語(yǔ)言:韓/英/中
平臺(tái)尺寸:480*480mm(長(zhǎng)*寬) | 測(cè)量原理:能量色散X射線分析
能量分辨率:130eV 焦斑直徑:15~35μm 分析方法:FP/校準(zhǔn)曲線,吸收,熒光 樣品移動(dòng)距離:350*250mm |
1. X 射線管:高穩(wěn)定性 X 光光管,使用壽命(工作時(shí)間>10,000 小時(shí)) 微焦點(diǎn) x 射線管鉬鈀
焦斑直徑:15~35μm
2. 探測(cè)器:70mm2探測(cè)器面積FAST SDD探測(cè)器 能量分辨率:130eV
3. 平臺(tái):軟件程序控制伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng) X-Y 軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
4. 激光定位、簡(jiǎn)易荷載最大負(fù)載量為 5 公斤
5. 軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)量
6. 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能
7. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點(diǎn)改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(cè)量讀數(shù)自動(dòng)顯示
8 .視頻系統(tǒng):高分辨率 CCD 攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 放大倍數(shù):80~240X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
9. 檢測(cè)厚度(正常指標(biāo)):
- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 – 1000 微英寸
- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 – 1200 微英寸
- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 – 3000 微英寸
- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 – 500 微英寸
10. 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)
1)含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)
2)含Windows10軟件
3)Multi-Ray鍍層分析軟件
iEDX-150μWT 型號(hào)光譜儀軟件功能
1) 軟件應(yīng)用
- 單鍍層測(cè)量
- 線性層測(cè)量,如:薄膜測(cè)量
- 雙鍍層測(cè)量
- 針對(duì)合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度
- 三鍍層測(cè)量。
- 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987. 1/ ISO3497-A2
- 勵(lì)磁模式的應(yīng)用 DIN50987. 1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測(cè)量
2) 軟件標(biāo)定
- 自動(dòng)標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析
- 使用無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)計(jì)算方法
- 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定
- 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動(dòng)調(diào)整功能
3) 軟件校正功能:
- 基點(diǎn)校正(基線本底校正)
- 多材料基點(diǎn)校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等
- 密度校正
4) 軟件測(cè)量功能:
- 快速開始測(cè)量
- 快速測(cè)量過(guò)程
- 自動(dòng)測(cè)量條件設(shè)定(光管電流,濾光片,ROI)
5) 自動(dòng)測(cè)量功能(軟件平臺(tái))
- 同模式重復(fù)功能(可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)檢測(cè))
- 確認(rèn)測(cè)量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測(cè)量開始點(diǎn)設(shè)定功能(每個(gè)文件中存儲(chǔ)原始數(shù)據(jù))
- 測(cè)量開始點(diǎn)存儲(chǔ)功能、打印數(shù)據(jù)
- 旋轉(zhuǎn)校正功能
- TSP 應(yīng)用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測(cè)量功能
- 定性分析功能 (KLM 標(biāo)記方法)
- 每個(gè)能量/通道元素 ROI 光標(biāo)
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能:兩級(jí)顯示/疊加顯示/減法
- 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能(強(qiáng)度、能量)
7) 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測(cè)統(tǒng)計(jì)值: 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 最大值。
- 最小值、測(cè)量范圍,N 編號(hào)、 Cp 、 Cpk,
- 獨(dú)立曲線顯示測(cè)量結(jié)果。
- 自動(dòng)優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8)其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨(dú)立操作控制平臺(tái)
- 視頻參數(shù)調(diào)整
- 儀器使用單根 USB 數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接
- Multi-Ray 自動(dòng)輸出檢測(cè)報(bào)告(HTML ,Excel)
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫(kù)檢查程序
- 鍍層厚度測(cè)量程序保護(hù)。
9) 儀器維修和調(diào)整功能
- 自動(dòng)校準(zhǔn)功能;
- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;
- 自動(dòng)校準(zhǔn)過(guò)程中值增加、偏置量、強(qiáng)度、探測(cè)器分辨率,迭代法取決于峰位置、 CPS 、主 X 射線強(qiáng)度、輸入電壓、操作環(huán)境。
毛細(xì)管 x射線鍍層測(cè)厚儀
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