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簡述膜厚檢測儀規(guī)范的操作流程

更新時(shí)間:2025-08-21      點(diǎn)擊次數(shù):183
   在電子制造、汽車涂裝、航空航天、精密五金及材料研發(fā)領(lǐng)域,鍍層、涂層或氧化膜的厚度直接影響產(chǎn)品的耐腐蝕性、導(dǎo)電性、外觀質(zhì)量與使用壽命。膜厚檢測儀通過磁性法、渦流法、X射線熒光(XRF)或超聲波等原理,實(shí)現(xiàn)對金屬與非金屬基材上單層或多層薄膜的無損測量,是質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。為確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性、重復(fù)性與壽命,膜厚檢測儀必須遵循科學(xué)、規(guī)范的操作流程。

 


  第一步:儀器選擇與模式確認(rèn)
  根據(jù)被測膜層與基材類型選擇合適的檢測方法:
  磁性法:用于非磁性涂層(如油漆、塑料)覆于鋼鐵基材;
  渦流法:用于非導(dǎo)電涂層覆于非鐵金屬(如鋁、銅);
  XRF法:可測多層金屬鍍層(如Ni-Cr、Au-Pd-Ag),無需接觸;
  超聲波法:適用于非金屬基材上的涂層(如塑料上的油漆)。
  開機(jī)后確認(rèn)儀器處于正確測量模式。
  第二步:校準(zhǔn)與基板校正
  使用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片(已知厚度的膜片或階梯片)對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。若基材表面粗糙或曲率較大,需進(jìn)行“零點(diǎn)校正”或“基板校正”:將探頭置于未涂層的同質(zhì)基材上,執(zhí)行清零操作,消除基材特性對測量的影響。
  第三步:環(huán)境與樣品準(zhǔn)備
  確保測量環(huán)境清潔、無強(qiáng)磁場或振動(dòng)。被測樣品表面應(yīng)平整、干燥、無油污、灰塵或氧化層。對于曲面或小工件,選擇合適探頭(如小直徑探頭),避免邊緣效應(yīng)。
  第四步:探頭放置與測量操作
  將探頭垂直、平穩(wěn)地接觸被測表面,避免傾斜或滑動(dòng)。對于手持式儀器,輕壓探頭至儀器提示“滴”聲或屏幕顯示穩(wěn)定值。每點(diǎn)可測量3-5次,取平均值以提高精度。避免在同一位置反復(fù)測量,防止壓傷軟膜層。
  第五步:數(shù)據(jù)記錄與多點(diǎn)分析
  及時(shí)記錄測量值,部分型號支持自動(dòng)存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)分析(平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、最大/最小值)及生成報(bào)告。對大面積工件,按標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行網(wǎng)格化多點(diǎn)測量,評估膜厚均勻性。
  第六步:清潔與儀器維護(hù)
  測量結(jié)束后,用柔軟干布清潔探頭表面,防止殘留物影響下次測量。定期檢查探頭磨損情況,必要時(shí)更換。膜厚檢測儀需注意輻射安全,避免直視射線窗口。長期不用時(shí),取出電池,存放于干燥環(huán)境。

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